手持XRF光譜儀X-MET8000

X-MET8000 手持式貴金屬分析儀優(yōu)勢：完全無損檢測，快速而準(zhǔn)確，較低的檢出限，簡便攜帶，堅固耐用

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技術(shù)參數(shù)

X-MET8000 Smart	X-MET8000 Optimum	X-MET8000 Expert
X射線管：40kV	X射線管：40kV or 50kV	X射線管：50kV
濾光片：單一	濾光片：單一	濾光片：單一
檢測器：大面積 SDD	檢測器：大面積 SDD	檢測器：大面積 SDD
樣本溫度：400oC	樣本溫度：100oC 或通過 HERO? 耐熱窗戶400oC（可選)	樣本溫度：100oC 或通過 HERO? 耐熱窗戶400oC（可選)
符合 IP54 級別	符合 IP54 級別	符合 IP54 級別
Thick Kapton®窗口：保護(hù)以預(yù)防探測器的窗戶損壞	可選窗口防護(hù)罩：預(yù)防檢測器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)	可選窗口防護(hù)罩：預(yù)防檢測器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)
校準(zhǔn)：基本參數(shù)法(FP)	校準(zhǔn)：基本參數(shù)法 （包括輕元素分析）	校準(zhǔn)方法：自動跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗系數(shù)法（可進(jìn)行追溯）
內(nèi)置攝像頭 （可選）	內(nèi)置攝像頭（可選）	內(nèi)置攝像頭
	小光班準(zhǔn)直器（可選）	小光班準(zhǔn)直器 （可選)
	針對元素（從鎂到鈾）進(jìn)行優(yōu)先分析的六位濾光片	針對元素，從鎂到鈾，的優(yōu)先分析的六位濾光片

應(yīng)用領(lǐng)域

	X-MET8000 Smart	X-MET8000Optimum	X-MET8000Expert
廢金屬回收	?	?	?
材料可靠性鑒定(PMI)檢查		?	?
制造與 PMI QA/QC	?	?	?
貴金屬	?	?	?
監(jiān)管機(jī)構(gòu)合規(guī)篩查（消費品、包裝、原材料…）		?	?
			X-MET8000
			Expert CG
環(huán)境土壤篩查			?
			X-MET8000
			Expert Geo
環(huán)境土壤篩查			?
			X-MET8000
			Expert Geo
金屬鍍層厚度測量	?	?	?
			X-MET8000
			Expert
			/ Expert CG
科技考古		?	?
			X-MET8000
			Expert
			/ Expert CG
			/ Expert Geo

性能優(yōu)勢

X-MET提供極好的輕元素 （鎂、鋁、硅、磷、硫、氯）分析，檢測限度低，且可每天提供準(zhǔn)確可靠結(jié)果。

通過靈活的基本參數(shù)法(FP)法進(jìn)行分析，從而測試多種材料；或若需結(jié)果可追溯和高度準(zhǔn)確，則使用實證校準(zhǔn)。

操作簡單

大觸摸屏和基于圖標(biāo)的用戶界面，使用戶只需要極少的培訓(xùn)便可開始操作。

符合人體工學(xué)

X-MET輕便（1.5公斤）、簡潔、平衡性好，可供長時間使用，疲勞度低。

堅固耐用而擁有成本低

符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。

通過MIL-STD-810G耐用標(biāo)準(zhǔn)測試。

其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測量導(dǎo)致探測器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費用。

數(shù)據(jù)管理

完全靈活：可將多達(dá)100,000條結(jié)果保存在X-MET上，將報告輸出到U盤或個人計算機(jī)，或自動將X-MET數(shù)據(jù)存儲在LiveData云端。

手持式X光熒光分析儀(HHXRF)的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準(zhǔn)確化學(xué)結(jié)構(gòu)分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡單，可為您提供可靠的結(jié)果。